集成室温探针台快速霍尔效应测试系统
集成探针台快速霍尔效应测试系统采用Lake Shore FastHall技术，测试霍尔效应时不需要反转磁场。测试速度非常快，大大提高实验效率。可以实现样品的霍尔效应测试，得到样品的霍尔电压、迁移率、载流子浓度、电阻率、PN型等参数。
传统的直流场霍尔效应测量方法对于迁移率较高的简单材料测试是简单和可靠的。而随着载流子迁移率的降低，测量难度增加，精度降低。这类低迁移率的材料通常是有前途的新型半导体材料，如光电，热电和有机物。目前针对这类材料霍尔测量，通过使用先进的锁相放大器和更长的测量时间的交流磁场技术可以提取更小的霍尔电压信号。其延长测量间隔会增加热漂移效应带来的误差，也需要更长的时间才能得到测量结果。FastHall技术解决了以上问题，它能在几秒内精确地测量低迁移率材料。
集成探针台快速霍尔效应测试系统包含室温永磁铁探针台、霍尔效应测试仪及配套附件。
标准配置包含:
探针台主机一台
探针臂四套
0.65T永磁铁一个
2英寸镀金接地样品座一个
光学系统一套
霍尔效应测试仪一台
带MeasureLINK软件的电脑一台
匹配支架一套
线缆一套
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主要参数 |
磁场 0.65T
样品座尺寸 2英寸
样品座XYZ方向移动范围 ±40mm*±40mm*15mm
探针座数量 4个
探针臂XYZ方向移动范围 ±5mm*±5mm*±5mm
探针臂漏电流 100fA
显微镜放大倍数 25-160倍
电阻范围：10mΩ-1GΩ
霍尔迁移率：0.01-106 cm2 /Vs
电阻率：1*10-5 到105 Ωcm
