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PSM-PM系列手动永磁铁探针台

随着电子技术的不断发展，对于精密微小（纳米级）的微电子器件，要去测试它的基本电性能或磁性能，就需要有一种高精度探针座，通过显微镜将被测元件放大，用高精度微探针进行扎针，外部连接测试主机进行测试和分析。Adgarde 室温磁场探针台（PSM-PM-4）为样品材料在磁场下提供一个测试环境，外部连接测试主机可用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要的霍尔参数。还可以在室温下对芯片、晶圆和器件进行非破坏测试。

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SPSM系列室温手动探针台

SPSM紧凑型室温手动探针台是一款经济实惠、入门级的探针台，能够对2寸、4寸寸晶圆片进行大量非破坏性的、标准的电学实验，外接不同的测试设备，可以完成对器件的电学特性测量、参数测量、DC测量。紧凑的桌面设计是学术和实验研究的较佳选择。（我们可定制SPSM-2、4寸探针台）

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PSM系列标准型手动室温探针台

Adgarde室温手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，外接不同的测量仪器，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测，用于室温下的芯片、晶圆和器件的非破坏测试。

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PSM-VR系列手动真空探针台

室温真空探针台能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个室温真空测试环境，通过外接不同的电学测量仪器，可完成集成电路的电压、电流、电阻以及IV曲线等参数检测，用于室温真空环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。

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PSM-LN2液氮高低温真空探针台

Adgarde液氮高低温真空探针台PSM-LN2是一款专门针对高低温真空电测环境开发的探针台，能够对2寸晶圆片进行重复非破坏性的、标准的电学实验，外接不同的测试设备，可以完成对器件的电学特性测量、参数测量、DC测量和RF测量。

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PSM-4K-3T闭循环超导磁体探针台

PSM-4K-3T闭循环超导磁体低温探针台能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个10K-325K，±3T的低温真空强磁场测试环境，通过外接不同的电学测量仪器，可完成集成电路的电压、电流、电阻、IV曲线、霍尔等参数检测，用于低温磁场环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。

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PSM-HR系列高分辨率手动探针台

PSM-HR高分辨率探针台，能够对2寸、4寸、6寸、8寸、12英寸超小芯片、晶圆等器件进行非破坏性的、标准的电学实验外接不同的测试设备，可以完成对器件的电学特性测量、参数测量、DC测量。另外可搭配激光仪器使用，是高精度实验研究的佳选择。（我们可定制PSM-PM-4、6、8、12寸探针台）

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PSM-4K闭循环低温探针台

Adgarde室温真空探针台是一款专门针对4K低温电测环境开发的探针台，能够对2寸、4寸晶圆片进行重复非破坏性的标准的电学实验，外接不同的测试设备，可以完成对器件的电学特性测量、参数测量、DC测量和RF测量。

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PSM-EM系列手动电磁铁探针台

Adgarde 室温磁场探针台（PSM-EM-4）不仅可以完成永磁铁探针台所能完成的测试，并且可以为样品测试提供一个可变磁场，磁场较强，磁场均匀区较大。此款探针台专门为在测量过程中需要连续磁场变化的实验设计，在室温下对芯片、晶圆和器件进行非破坏测试。

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